高光譜成像光譜儀也稱高光譜成像儀，其根據(jù)成像系統(tǒng)和分光技術(shù)的不同，可以分為面陣列探測器加空間推掃型、線列探測器加光機掃描型、光譜空間交叉掃描型和光譜掃描型等四種類型。本文對面陣列探測器加空間推掃型光譜儀做了介紹。

面陣列探測器加空間推掃型光譜儀原理：

在這類光譜儀中，前光學系統(tǒng)（反射鏡和物鏡）把一行地物目標成像在狹縫上，與狹縫對應的探測器陣列自掃描完成一維空間掃描，另一維由運載平臺的運動完成，即由面陣器件的固體自掃描和飛行平臺向前運動完成二維空間掃描。另外，狹縫也是光譜儀的入射狹縫，光譜儀把入射狹縫上的地物像均勻地色散到焦平面探測器上，面陣探測器的另一維完成光譜掃描，即面陣器件的一維完成空間成像，另一維完成光譜的掃描，分光譜器件多數(shù)也是光柵和棱鏡。其工作原理如下圖所示。

面陣列探測器加空間推掃型光譜儀特點：

這類成像光譜儀的特點是：空間掃描由器件的固體自掃描完成，像元的凝視時間較長，這樣可以提高系統(tǒng)的靈敏度，或者提高系統(tǒng)的空間分辨率；在可見光波段，由于目前器件很成熟，集成程度也很高，光譜分辨力可以提高到1～2nm的水平；由于沒有光機掃描機構(gòu)，儀器的體積可以設(shè)計很小。

目前在可見光、近紅外波段，此類成像光譜儀很多，有的已經(jīng)達到商品化水平。其主要不足之處是：紅外波段由于器件的限制，短波紅外靈敏度還不理想，熱紅外暫時不可能；由于光學設(shè)計的困難，總視場一般較小。但是，隨著焦平面器件的進一步發(fā)展和成熟，這類成像光譜儀所占的比例將會越來越多。為了克服線列陣型成像光譜儀對像元凝視時間少，而面陣推帚型成像光譜儀的總視場又不夠大的缺點，有時采用小面陣并掃型成像光譜儀。