高光譜成像技術的核心原理是光譜與圖像合二為一，獲得圖像數據的同時，得到圖像中每個像素的光譜信息，即高光譜數據多維立方體。其采集數據的方式主要包括點掃描、線掃描、面掃描等。本文對高光譜技術的原理做了介紹。

高光譜成像技術指什么？

高光譜成像技術的光譜波段覆蓋了可見光、近紅外、中紅外、遠紅外以及熱紅外等區域的全部連續的光譜帶。其中可見近紅外（VNIR）和近紅外波段（NIR）在樣品定性定量研究中較為廣泛。高光譜成像系統主要由光源、光譜儀、鏡頭、高分辨率相機和電荷耦合探測器（CCD）等組成，如下圖所示。

高光譜成像技術數據采集方式主要包括點掃描、線掃描、面掃描。點掃描主要捕獲單個像素點的光譜，常用于微觀對象的檢測；線掃描又稱為推掃式，主要用于獲取樣品在對應條狀空間中每個像素在各個波長下的圖像信息，而且在檢測時需要光譜檢測器和待測樣品產生位移差，因此該數據采集方法能較好地應用于傳送帶系統；面掃描主要是獲取樣品在單個波長下完整的空間圖像。

高光譜成像技術的基本原理：

如上圖所示，當光源照射到待測樣品表面，由于樣品中所含物質成分及物理特性存在差異，在特定波長下有不同的反射比、分散度以及電磁能等。待檢樣品的輻射能通過鏡頭聚集并由狹縫增強準直照射到分光原件上，最終在垂直方向上按光譜分散并成像于圖像傳感器上，即得到待測樣品的高光譜圖，如下圖所示。

高光譜圖像是由非常窄的多達數百個連續光譜波段組成，其圖像又稱超立方，可通過反射、透射和漫反射來獲取，該圖像是一個三維的數據矩陣（X，Y，λ），其中（X，Y）代表的是二維的空間維度，（λ）代表的是一維的光譜維度。從一維維度（λ）上看，高光譜圖像是一張張二維（X，Y）圖像（上圖A），而從二維（X，Y）上看，高光譜圖像是一條條光譜譜線（上圖B），光譜數據所攜帶的信息一般可采用3種表示方法，即圖像空間、光譜空間、特征空間。圖像空間根據RGB色澤的差異能較為直觀地觀測被檢對象的整體分布信息；光譜空間表示了被檢物質在不同波長下的響應情況；特征空間為光譜指紋圖譜技術奠定了理論依據，且該特征空間能較好地應用于模式識別。